走査型プローブ顕微鏡 (AFM)
| 型式 | MultiMode8 |
|---|---|
| メーカー | Bruker AXS |
| 導入年度 | 2013年度 |
| 設置場所 | センター4F 材料解析室(1) |
| 仕様 | 測定観測領域:125µm×125µm |
| 利用区分 | 学部生:◯ 博士前期:◯ 博士後期:◯ 教職員:◯ |
| 依頼分析 | 学内:◯ 学外:◯ |
| 活用事例 | 試料表面の凹凸評価など |
| 備考 | ― |

| 型式 | MultiMode8 |
|---|---|
| メーカー | Bruker AXS |
| 導入年度 | 2013年度 |
| 設置場所 | センター4F 材料解析室(1) |
| 仕様 | 測定観測領域:125µm×125µm |
| 利用区分 | 学部生:◯ 博士前期:◯ 博士後期:◯ 教職員:◯ |
| 依頼分析 | 学内:◯ 学外:◯ |
| 活用事例 | 試料表面の凹凸評価など |
| 備考 | ― |
