走査型プローブ顕微鏡 (AFM)
| 型式 | MultiMode8 |
|---|---|
| メーカー | Bruker AXS |
| 導入年度 | 2013年度 |
| 設置場所 | センター4F 材料解析室(1) |
| 仕様 | 測定観測領域：125µm×125µm |
| 利用区分 | 学部生：◯ 博士前期：◯ 博士後期：◯ 教職員：◯ |
| 依頼分析 | 学内：◯ 学外：◯ |
| 管理担当者 | 髙宮健吾（総合技術支援センター技師） |
| 活用事例 | 試料表面の凹凸評価など |
| 備考 | ― |
