高分解能走査型電子顕微鏡
| 型式 | S-4800 |
|---|---|
| メーカー | 日立ハイテクノロジーズ |
| 導入年度 | 2009年度 |
| 設置場所 | センター3F 分析電子顕微鏡室(1) |
| 仕様 | 電子銃 : 冷陰極電界放出型(Cold FE) |
| 利用区分 | 学部生:△ 博士前期:◯ 博士後期:◯ 教職員:◯ |
| 依頼分析 | 学内:◯ 学外:◯ |
| 活用事例 | 試料表面構造の超高分解能観察 |
| 備考 | ― |

| 型式 | S-4800 |
|---|---|
| メーカー | 日立ハイテクノロジーズ |
| 導入年度 | 2009年度 |
| 設置場所 | センター3F 分析電子顕微鏡室(1) |
| 仕様 | 電子銃 : 冷陰極電界放出型(Cold FE) |
| 利用区分 | 学部生:△ 博士前期:◯ 博士後期:◯ 教職員:◯ |
| 依頼分析 | 学内:◯ 学外:◯ |
| 活用事例 | 試料表面構造の超高分解能観察 |
| 備考 | ― |
