表面分析は日々技術進歩が進んでおり、研究を進めるうえで非常に有効で欠かせないツールとなってきています。今回は、XPS（ESCA）についての、原理、特長、装置構成、サンプリング法、データ処理と解析方法並びに最新のアプリケーションについて紹介します。
2011年 6月16日(木) 13:00 ～ 14:30
科学分析支援センター3階 会議室
株式会社島津製作所
分析計測事業部 KRATOS XPS課 吉田能英 氏
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内線 ：5102
担当 ：藤原隆司 fuji＠chem.saitama-u.ac.jp
徳永 誠 toku＠apc.saitama-u.ac.jp
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