科学分析支援センターには多くの電子顕微鏡（走査型(SEM) 4台、透過型(TEM) 2台）が設置されています。これらの装置を教育・研究に有効活用していただくために、装置の原理と基礎、アプリケーションを中心に、X線元素分析装置（EDX）の原理も含めたセミナーを開催いたします。多くの皆様のご参加をお待ちしております。
7月24日（火） 13:00 ～ 16:00
総合研究棟１階 シアター教室
| 時間 | 講演内容 | 講演者 |
|---|---|---|
| 13:00 ～ | センター長挨拶 | 科学分析支援センター長 小林 秀彦 |
| 13:05 ～ | 透過型電子顕微鏡の応用技術 ～TEMで何ができるのか？ ～ TEMの基礎とアプリケーションデータの紹介 |
日立ハイテクノロジーズ 中澤 英子 氏 |
| 13:45 ～ | 休憩 | |
| 14:00 ～ | 走査型電子顕微鏡の応用技術 ～SEMで何ができるのか？～ SEMの基礎とアプリケーションデータの紹介 |
日立ハイテクノロジーズ 中澤 英子 氏 |
| 14:40 ～ | 休憩 | |
| 15:00 ～ | X線元素分析装置の応用技術 ～EDXで何ができるのか？～ EDXの基礎とアプリケーションデータの紹介 |
ブルカー・エイエックスエス 山崎 巌 氏 |
| 15:40 ～ | 質疑応答 |
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科学分析支援センター 徳永 誠 内線5102
E-mail：toku＠mail.saitama-u.ac.jp
（スパムメール対策のため、＠が大文字となっています。）
※ セミナー開催の記録のために、写真を撮影させていただきます。 撮影した写真は、必要に応じて報告書等に掲載し公開されることがありますので、予めご承知おき願います。